특징

초고해상도, 5미크론 - 다중 반사 억제(MRS) 기술

SQ3000+는 생산 속도에서 계측 등급 정확도를 가능하게 하는 정교한 융합 알고리즘과 함께 CyberOptics의 독점 3D 감지 기술로 구동됩니다. 그 결과 초고화질 3D 이미지, 고속 검사 및 계측, 향상된 수율 및 프로세스가 제공됩니다.

SQ3000+는 반짝이는 구성 요소와 표면으로 인한 반사 기반 왜곡을 세심하게 식별하고 거부함으로써 고급 MRS 센서 기술로 타의 추종을 불허하는 정확도를 제공합니다. 정확한 측정을 위해서는 다중 반사를 효과적으로 억제하는 것이 중요합니다. SQ3000+에 통합된 새로운 초고해상도 5미크론 MRS 센서는 가장 까다로운 요구 사항이 있는 고급 애플리케이션을 위해 특별히 설계되었습니다.

고급 애플리케이션을 위한 조립 및 공정 개선을 위한 검사 및 계측 솔루션

MRS 기술이 포함된 SQ3000+는 고급 패키징, 미니/마이크로 LED, 자동차, 의료, 군사, 항공 우주 및 첨단 전자 제품을 위한 고급 SMT 애플리케이션, 008004/0201 솔더 페이스트 검사(SPI), 소켓 계측 및 기타를 포함한 고급 애플리케이션에 이상적입니다. 품질과 신뢰성이 중요한 고급 좌표 측정(CMM) 애플리케이션.

직관적이고 사용하기 쉬운 소프트웨어 - 보다 스마트하고 빠른 검사 가능

여러 상을 수상한 SQ3000 AOI 소프트웨어는 직관적인 인터페이스와 3D 이미지 시각화 도구를 사용한 멀티 터치 제어로 설계된 더욱 강력하면서도 매우 단순한 소프트웨어 제품군입니다. 초고속 프로그래밍 기능은 사용 편의성을 완전히 새로운 수준으로 끌어올리고 설정 속도를 크게 높이고 프로세스를 단순화하며 교육 노력을 줄이고 작업자 상호 작용을 최소화하여 시간과 비용을 모두 절약합니다.

더 빠른 설정과 단순화된 프로세스를 위한 AutoTeach, AutoTune 및 AutoDefine을 포함한 새로운 기능으로 프로그래밍 및 튜닝 속도를 높입니다. AI²(자율 이미지 해석) 기술은 조정해야 할 매개변수나 알고리즘을 조정할 필요 없이 단순하게 유지하는 데 중점을 둡니다. 또한 결함을 예상하거나 분산을 미리 정의할 필요도 없습니다. AI²는 데이터가 풍부하고 사전 로드된 라이브러리와 자체적으로 모델을 수집하고 업데이트하는 자동화된 스크립트를 기반으로 모든 작업을 수행합니다. AI²를 사용하면 가장 포괄적인 기능 목록을 검사하고 가장 다양한 결함을 식별할 수 있습니다. AI²는 단 한 번의 패널 검사로 정확한 식별을 제공하므로 혼합 및 고용량 애플리케이션에 완벽한 솔루션입니다.

더 빠르고 정확한 좌표 측정(CMM) 제품군

좌표 측정 도구의 포괄적인 소프트웨어 제품군인 CyberCMM™은 동일 평면도, 거리, 높이 및 데이텀 X, Y를 포함하여 기존 CMM보다 훨씬 빠르게 모든 중요 지점에 대해 매우 정확한 100% 계측 등급 측정을 제공합니다. 일반적으로 기존 좌표 측정기(CMM)로 여러 번 조정해야 하는 느리고 엔지니어링 리소스 집약적인 설정과 비교하여 복잡한 애플리케이션 프로그래밍을 위한 세계 최초의 인라인 CMM 시스템으로 빠르고 쉬운 설정을 수행할 수 있습니다.